漏电

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浅析组串式和集中式光伏逆变器的可靠性来源:索比太阳能光伏网 发布时间:2014-09-18 11:11:15

PCB或元器件间易形成漏电效应和腐蚀效应,造成信号的异常或高压拉弧打火,还有可能造成电网对PE的短路,引起逆变器异常关机或炸毁。同时逆变器风扇是易损件,平均使用寿命约为5年左右。业界集中式逆变器故障率
一般超过3%,故障率是组串式逆变器的3倍以上。北方很多电站是在戈壁滩上建设,其实际是典型的盐碱地,灰尘中含大量的盐离子成分。在昼夜间歇工作模式下,发生腐蚀和漏电的概率比常规的电气设备大很多。 另外

集中式光伏逆变器房运维痛点之“灰尘”来源:索比太阳能光伏网 陆孝义 中利腾晖光伏科技有限公司 发布时间:2014-09-18 08:22:18

3 设备失效后内部积尘情况 图4 设备上的风扇部积尘情况 1)漏电失效 在干燥的空气情况下,阻抗一般较高,失效不表现。如果在雨雾天,天气湿度大的情况下,灰尘吸湿后变为湿尘,此时湿尘表现较强的
导电活性。在PCB或元器件间形成漏电效应,造成信号的异常或高压拉弧打火,还有可能造成电网对PE的短路。有些PCB虽然进行了三防漆防护,但三防漆的涂覆后,还是在元器件的管脚、边缘位置形成针眼,湿尘还是能

浅析组串式和集中式光伏逆变器可靠性来源:世纪新能源网 发布时间:2014-09-17 23:59:59

形成漏电效应和腐蚀效应,造成信号的异常或高压拉弧打火,还有可能造成电网对PE的短路,引起逆变器异常关机或炸毁。同时逆变器风扇是易损件,平均使用寿命约为5年左右。业界集中式逆变器故障率一般超过3%,故障率
是组串式逆变器的3倍以上。北方很多电站是在戈壁滩上建设,其实际是典型的盐碱地,灰尘中含大量的盐离子成分。在昼夜间歇工作模式下,发生腐蚀和漏电的概率比常规的电气设备大很多。另外从逆变器的辅助电源上比较

智能光伏电站解决方案系列报道三——安全篇来源:北极星太阳能光伏网 发布时间:2014-09-04 14:28:10

无需接地的情况下,实现对地正压,有效规避PID效应;由于电池板负极无需接地,加上逆变器内部的残余电流监测电路,能够在检测到漏电流大于30毫安的情况下,150ms内切断电路,实现了主动安全。华为智能光伏

智能光伏电站解决方案系列报道三---安全篇来源:索比太阳能光伏网 发布时间:2014-09-04 14:18:06

软件,在系统中设置虚拟正(负)压电路,使电池板负极无需接地的情况下,实现对地正压,有效规避PID效应;由于电池板负极无需接地,加上逆变器内部的残余电流监测电路,能够在检测到漏电流大于30毫安的情况下

从澳洲光伏直流开关召回看选择合适光伏直流开关的重要性来源:pv-tech 发布时间:2014-09-03 09:23:33

功率切断的直流开关。这些交流开关的灭弧能力、额定带载切断功率都远远不够,容易导致过热、漏电和火花,严重时甚至烧毁掉整个光伏电站。 原标题:从澳洲光伏直流开关召回看选择合适的光伏直流开关的重要性

从澳洲光伏直流开关召回看选择合适的光伏直流开关的重要性来源:pv-tech 发布时间:2014-08-29 13:39:20

,所以选择合格的光伏直流开关将至关重要。 目前国内市场所谓的光伏直流开关多是一些交流开关或其改进产品, 不是真正应用在光伏系统中的具有安全灭弧、高功率切断的直流开关。这些交流开关 的灭弧能力、额定带载切断功率都远远不够,容易导致过热、漏电和火花,严重时甚 至烧毁掉整个光伏电站。

光伏组件EL测试出现亮斑的原因来源:Solarzoom 发布时间:2014-08-29 09:27:22

栅线位置会发亮; 2,电池片本身结构损坏导致漏电漏电位置会发亮; 亮斑会越来越亮,组件本身运行是个过程,电流运行肯定是哪里电阻小就从哪里流出,运行初期没找到电阻低的地方,就不是很亮,发亮
区域既然漏电,那相对电阻低,电流都会向这一区域集中,就会出现时间长,这一地方自然就会越来越亮了,发亮,会遮光,也会发热,自然衰减就大了。 图1 图2 从图来看,第一张图有

浅谈光伏组件重要参数来源:阳光工匠光伏网 发布时间:2014-08-26 10:07:30

光伏组件抗PID技术研究》中内容)电位诱发衰减效应(PID,PotentialInducedDegradation)是电池组件长期在高电压作用下,使玻璃、封装材料之间存在漏电流,大量电荷狙击在电池片表面
漏电流,封装材料、背板、玻璃和边框之间形成了漏电流通道。通过使用改变绝缘胶膜乙烯醋酸乙烯酯(EVA)是实现组件抗PID的方式之一,在使用不同EVA封装胶膜条件下,组件的抗PID性能会存在差异。另外

投资光伏电站所需的材料清单来源:PV-Tech 发布时间:2014-08-26 08:10:15

组件功率衰减的诱因,背板一旦老化开裂, 保护层下的EVA封装材料衰减和腐蚀加速,组件绝缘性能下降,湿漏电增加,这些都会加速组件功率衰减。 欧盟的联合研究中心(JRC)从上世纪八十年代开始对晶硅组件