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方法参照IEC TS 62782标准。 - 增加针对柔性组件的特殊要求，包括在静态机械载荷测试后增加弯折试验。 - 对晶硅组件，在湿热试验后增加B-O LID稳定化试验，以排除晶硅电池组件(尤其是
PERC电池组件)B-O LID衰减对湿热试验衰减判定的干扰。 - 对于旁路二极管热试验，如果二极管数量大于三个，可选其中三个进行测试。 - 对于绝缘耐压试验，测试条件与IEC 61730-2

在3月23日举办的暾说微讲堂上，东方日升新能源股份有限公司电池研发中心高级经理崔艳峰做了《HJT电池光致衰减(增益)的研究》的报告。报告介绍，东方日升对HJT电池进行了LID与LeTID的测试
，均表现为光致增益，而非光致衰减。研究了焊接过程中光+热对HJT电池的影响，发现同样有光致增益的表现，且对其进行LID与LeTID测试，仍然表现为增益。东方日升研究认为，一方面是由于a-si:H

电池的光衰有效控制。研究人员也发现光致衰减实际上是载流子(Carrier)引起的光衰，LID也就可以称之为CID，高剂量光照或高电流注入均可以加速再生过程，生产出B-O光衰基本被消除的PERC电池
Degradation，光与升温导致的衰减)并不是一个新的概念，不少文献还是坚持使用LID in mc-silicon(多晶光衰)来描述同一现象。Q-Cells发现多晶PERC电池的开路电压衰减在95oC高

单晶PERC电池一直以来都有两大衰减困扰行业，纵观单多晶十年之争，先是因为隆基解决了单晶的LID光衰，后来又进一步解决了近年来发现的光热衰减(LeTID)，才最终让单晶在2018年与多晶平分秋色
，2019年完胜多晶。而隆基解决LID和LeTID的方法，据称是采用了澳大利亚新南威尔士大学的氢化技术。氢化技术是通过钝化电池中的硼氧缺陷来控制氢的存在，从而增强整体缺陷的钝化能力，对于单晶

异质结电池基本均为N型硅片衬底，因此也具备N型硅片相对于目前主流P型硅片的固有优势，如无光致衰减(LID)和可薄片化(异质结结构本身亦对可薄片化有所贡献)。N型硅片掺杂物质为磷，硼含量极低，因此由硼氧
对(B-O)导致的光衰(LID)基本可以忽略，可提升电池片使用寿命和长期发电量。同时，可薄片化意味着同片数的电池对应更少的硅用量，有助于在硅成本方面形成比较优势。多方面优势带动产业化热情：出于