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63342 Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test for c-Si Photovoltaic (PV
) modules: Detection 晶硅光伏组件高温辅助光致诱导衰减测试目前状态：CD草案将于本月提交。 - 正式写法统一为LETID。- 升温条件: 当温度达到要求时再通入电流。- 对标准中的

(PV)器件的等效电池温度(ECT) IEC 60891 光伏器件 I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 IEC 63342晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试 IEC
亚稳态光伏设备最大功率的稳态测试新提议 - 组件提升抗冰雹能力的验证规范新提议 - 修改IEC61215-2中热斑耐久测试中的要求新提议 - 关于在IEC 61215 / IEC

认证、国家CQC及领跑者认证、国家金太阳及领跑者认证、加州CEC、佛罗里达FSEC、哥伦比亚认证、迪拜认证、印度BIS认证、韩国KS认证等，产品行销全球需要的认证以及产品模拟包装运输、抗氨气、盐雾、沙尘
、冰雹、PID、动态载荷、三倍环境加严测试认证、低辐照性能测试、LID光衰测试、LeTID测试认证等一系列认证。 (四)海内外市场齐头并进，以产品境外销售+境外光伏电站投资新模式，赢得全球的广泛认可

、TOPCon、HJT(异质结)三种电池的成本数据，PERC 电池成本最低，对应组件功率也最低，并且存在 LID/PID/LETID 等衰减，后期发电能力弱;TOPCon 的成本较 PERC 高 1 元/片
发电能力更强，已经成为更具有优势的选择;HJT(异质结)成本较 TOPCon 高 1.4 元/片，目前效率以及组件功率跟 TOPCon 相当，双面率和抗衰减能力也相当，性能相近的情况下系统端成本高

第三方实测数据对比，中来N型双面组件单面产品可提高13%-15%的增益。同时，中来N型双面组件在沙漠和湿热地区温度要超过75℃，在类似中东这种高温地区，尤其要重视组件的抗LeTID(光热衰减)性能，N型
双面组件由于它结构的天然属性有着优异的抗LeTID(光热衰减)性能。而且中来N型组件衰减降低至首年1%，每年0.4%，较国家标准(首年4%，每年衰减0.7%)低很多，换算到25年总体发电量增加6.32