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为功能性要求，并将增加相应示意图在条目5中阐明绝缘距离DTI的概念以及相关材料的测试要求以及附录B内容明确各项术语定义及测试要求，并允许新颖的组件型式设计(如减小电池片间隙)，具体修改内容仍在进一步讨论
参考标准针对减小内部带电部件到外部可接触表面之间的距离的方式进行编辑性修改并举例，例如材料组别(相对漏电起痕指数CTI)、用以减小爬电距离的测试序列B.1、脉冲电压及绝缘测试、胶合的使用

表现为：开路电压偏低、短路电流偏低、并联电阻偏小、暗电流偏大; a. 备注说明：正常是指指标变化相对小，异常是指指标变化相对大。 b. 使用检测设备：四探针测试仪 和 EL
; a. 备注说明：正常是指指标变化相对小，异常是指指标变化相对大。 b. 使用检测设备：用EL-C; c. 分析判断方法： 1. 直接用EL-C 测试电池片，如果正反偏图象

报废。预防措施 1.确保焊接机温度、助焊剂喷射量和焊接时间的参数设定.并要定期检查。 2.返修区域要确保烙铁的温度、焊接时间和使用正确的助焊笔涂抹助焊剂。 3.加强EL检验力度，避免不良漏失
。 18 接线盒硅胶不固化 1.硅胶配比不符合工艺要求造成硅胶不固化。 2.出胶孔A或B胶孔堵住未出胶造成不固化。组件影响 1.硅胶不固化胶会从线盒缝隙边缘流出，盒内引线会暴露在空气中遇雨

试验，每500 h 取出测一次功率及EL;3# 和4# 用于HF100 测试，每10 个循环测一次功率及EL。首先将组件同时接受光辐照5 kWh/m2 的预处理，预处理之后测得的功率如表1 所示
。得到预处理后的功率数据后，试验设计过程如图2 所示。将1# 和2# 组件置于湿热环境箱中，设置湿度85% 和温度85 ℃的试验条件，每500h 取出组件进行功率和EL 检测;将3# 和

单面镀膜SiNx∶H钝化，以及背面电极、背面电场和正面栅线电极印刷，最后经过高温烧结形成较好的欧姆接触。利用苏州中导光电设备有限公司生产的红外缺陷测试仪EL-S01对生产线上电池片进行测试
摘要：p型单晶硅太阳电池在el检测过程中，部分电池片出现黑斑现象。结合x射线能谱分析(eds)，对黑斑片与正常片进行对比分析，发现黑斑片电池与正常电池片大部分表面的成分相同，排除了镀膜及丝网印刷

镀膜SiNx∶H钝化，以及背面电极、背面电场和正面栅线电极印刷，最后经过高温烧结形成较好的欧姆接触。利用苏州中导光电设备有限公司生产的红外缺陷测试仪EL-S01对生产线上电池片进行测试
p型单晶硅太阳电池在el检测过程中，部分电池片出现黑斑现象。结合x射线能谱分析(eds)，对黑斑片与正常片进行对比分析，发现黑斑片电池与正常电池片大部分表面的成分相同，排除了镀膜及丝网印刷过程中

单面镀膜SiNx∶H钝化，以及背面电极、背面电场和正面栅线电极印刷，最后经过高温烧结形成较好的欧姆接触。利用苏州中导光电设备有限公司生产的红外缺陷测试仪EL-S01对生产线上电池片进行测试
摘要：p型单晶硅太阳电池在el检测过程中，部分电池片出现黑斑现象。结合x射线能谱分析(eds)，对黑斑片与正常片进行对比分析，发现黑斑片电池与正常电池片大部分表面的成分相同，排除了镀膜及丝网印刷

，宽度为1.0mm)。光伏组件功率测试设备为Pasan太阳能模拟器;检验组件内部电池片隐裂设备为德国Ophelms公司的OPT200A型EL测试仪。基于不同串并联结构，相同材料匹配分别制作72片
整片组件和144半片多晶组件，每种类型制备2块组件，具体样品类型及数量见表1。 1.3实验内容实验一：测试2块72片多晶整片组件和2块144片多晶半片组件的EL及电参数，并进行对比

电池片(一组经初始光照，另一组未经初始光照)，分别将其编号为I和II。同时，生产出的所有组件经质量全检及电致发光(EL)检测，确保质量完全正常。实验过程条件确保完全一致，采用同一台太阳能模拟仪测量
的老化开展。图4为某电站运营后材料老化的外观图。 2.1 EVA老化对光伏组件功率衰减影响把组件分为A、B、C、F8064组，分别采用4个不同厂家的EVA材料，电池片、玻璃、背板、焊带、边框

配件更换都要严格做好首件确认ok后在生产。 4.EL测试严格把关检验,禁止不良漏失。（七）电池助焊剂用量过多 1.焊接机调整助焊剂喷射量过大造成。 2.人员在返修时涂抹助焊剂过多导致。组件
喷射量和焊接时间的参数设定.并要定期检查。 2.返修区域要确保烙铁的温度、焊接时间和使用正确的助焊笔涂抹助焊剂。 3.加强EL检验力度，避免不良漏失下一工序。（九）焊带偏移或焊接后翘曲破片

电池片在EL测试仪下测试，EL图像见图2。可以看出:无网结+晶银印刷的电池片无断栅虚印，无网结网版+杜邦则会有两三根轻微的断栅虚印，无网结网版+帝科有比较严重的断栅虚印。因此印刷性能:晶银杜邦帝科
太阳能电池两面形成电路或电极。方阻测试仪:四探针方阻仪(GP4-TEST)测量扩散后的方阻值; 光学显微镜:测量丝网印刷后硅片的栅线宽度; 太阳能电池检测仪(BERGERLichttechnik

着重研究直拉单晶硅电池及铸锭多晶硅电池衰减的差异，以及导致差异形成的原因。结果表明，该差异的形成主要受B-O 复合体、碳含量、分凝系数及金属离子的影响。引言太阳电池和发电技术的大面积推广，对传
方式对LID值的影响。1LID的影响因素影响LID的因素为：1)硼氧(B-O)复合体。B-O复合体是影响LID的主要因素之一，LID值与B浓度成正比，与O浓度平方成正比。2)晶体内部碳(C)含量。高浓度的

着重研究直拉单晶硅电池及铸锭多晶硅电池衰减的差异，以及导致差异形成的原因。结果表明，该差异的形成主要受B-O 复合体、碳含量、分凝系数及金属离子的影响。引言太阳电池和发电技术的大面积推广
晶体生长方式对LID值的影响。 1LID的影响因素影响LID的因素为：1)硼氧(B-O)复合体。B-O复合体是影响LID的主要因素之一，LID值与B浓度成正比，与O浓度平方成正比。2)晶体内部碳

。组件主要是电池片(电池片分为多晶和单晶)、玻璃、背板构成。，分为A、B、C类组件。晶硅电池片生产流程组件的生产工艺流程，基本是原材料采购、入库、生产。最关键是自动焊接和承压。关键是EL
打电话，问这个组件什么情况，就都明白了。如果说去组件厂买生产，要注意几点：1、工厂的BOM清单。2、外观标准和EL标准。3、检测恒温恒湿仓库。4、功率测试仪和标板。5、功率测试仪和所有

实验的办法，在背板、EVA、玻璃和封装工艺等条件完全一致情况下，采用两组电池片（一组经初始光照，另一组未经初始光照），分别将其编号为I和II。同时，生产出的所有组件经质量全检及电致发光（EL）检测，确保
两种材料的老化开展。图4为某电站运营后材料老化的外观图。 2.1、EVA老化对光伏组件功率衰减影响把组件分为A、B、C、F806、4组，分别采用4个不同厂家的EVA材料，电池片、玻璃、背板、焊带、边框

样品出现失效问题。图8（a）、图8（b）分别是失效电池样品和正常样品的EL测试图。失效片只有边缘部分可以导通，其原因有待探究，但不是电极反印造成。其他厚度的片子翘曲度不大，所以没有出现失效的情况。可见
的PERC电池结构图。2.2、少子寿命将镀膜后的硅片放置于烧结炉上进行1min的快速退火，激活Al2O3钝化活性后进行少子寿命测试。少子寿命测试采用WCT120少子寿命测试仪，经退火处理的硅片平均少子

出的所有组件经质量全检及电致发光（EL）检测，确保质量完全正常。实验过程条件确保完全一致，采用同一台太阳能模拟仪测量光伏组件I-V曲线。分别取I和II光伏组件各3组进行试验，记录其在STC状态下的功率
两种材料的老化开展。图4为某电站运营后材料老化的外观图。2.1、EVA老化对光伏组件功率衰减影响把组件分为A、B、C、F806、4组，分别采用4个不同厂家的EVA材料，电池片、玻璃、背板、焊带、边框等