全球半导体和相关制造产业制程控制技术领导厂商万机科技公司,24日首度在新竹烟波饭店举办「2008半导体技术研讨会,提出制程控制的最新解决方案;同时,邀请SEMI台湾暨东南亚区总裁曹世纶,分享台湾
坑。在进行颗粒测量时误将小坑也作粒子计入。小坑的形成是由单晶缺陷引起,因此称这类粒子为COP(晶体的原生粒子缺陷)。据介绍直径200 mm 硅片按SEMI要求:256兆 ≥ 0.13 μm,<10个
2005.1. Semi晶圆制造分会指出2005年全球晶圆出货63.85in2,比上年仅增长2%。尽管电子级硅(EG)的消耗每隔几年就会有波动,甚至硅片消耗量出现下降,但总体是稳步上升的,照此估计
毛利率快速下滑,联电经过一年评估后,决定晶能科技由大尺寸薄膜式太阳电池市场出发。 目前全球太阳能产业尚无国际化标准,多由区域性提出相关规范,据了解,国际半导体设备暨材料协会(SEMI),有意出面制订