片串P20单晶单玻叠瓦组件将成为众人瞩目的焦点,其以高转换效率,首年低功率衰减,优秀的抗PID性能,更高的组件可靠性和低成本在行业内获得高度认可,引领了未来组件技术的发展方向。 除了产品之外
是因为:1.更优秀的温度系数(-0.258%,常规组件-0.46%),高温导致功率衰减少;2、HIT组件没有PID、LID导致的衰减现象,仅有老化衰减;3、在双面组件对照中,HIT更好的双面率使其背面发电
年衰减20%以内。长期稳定地发电能力是HIT独特的能力,而且是经过实践检验的、久经考验的。
考虑HIT组件更优温度系数、无PID和LID衰减、更高双面率等等有利因素后,我们有理由相信同等功率的双面
、PID效应:太阳能板在外界长期工作中,由于水汽透过背板渗透至太阳能板内部,造成EVA水解,醋酸离子使玻璃中析出金属离子,致使太阳能板内部电路和边框之间存在高偏置电压而出现电性能衰减、发电量急剧下降
突破99%,解决了低电压穿越、SVG、PID主动防护、拉弧检测等困扰整个行业的技术难题,锻造了一个个行业里程碑。 目前,视产品为生命的企业精神已在阳光电源上下形成一种文化上的共同价值观,并由此培育出
多晶、高效单晶PERC、超高效异质结三大尖端技术产品亮相。 晋能科技的高效多晶组件采用全自动化生产线,使用掺镓硅片的组件在双85(即85℃,85%相对湿度)条件下,PID低于1%,领先行业平均水平
下也只能将逆变器关机,避免影响教学。 6传统方案PID衰减严重,抑制方法危害人身安全 常熟某渔光互补电站,电站运行2年多,部分电池板衰减严重,达到30%以上,最高的衰减达到50%。传统抑制PID的
。更多措施可以包括在安装前对所有组件开展EL检测或更频繁的检测,并对在用的PV系统开展测试。
3.电势诱导退化
目前,电势诱导退化(PID)主要与晶硅组件相关。尽管一些c-Si组件制造商目前可提供
据称具有避免PID抗性的PV组件,但PID仍是一个尚待解决的问题。由于采用了不同的测试程序和可比性指标,但缺乏关于PID和恢复效应之间关联性方面的数据,因此为解决PID问题所做的工作变得更为复杂
1.1PID效应的发现和成因 PID效应(Potential Induced Degradation)全称为电势诱导衰减。PID直接危害就是大量电荷聚集在电池片表面,使电池表面钝化效果恶化,从而
重点关注系统的PID防护问题;以及光伏系统、渔业养殖的综合收益最大化问题。
3. 组串式逆变器由于单机容量小,MPPT数量多,配置灵活,主要适用于复杂的小型山丘电站、农业大棚和复杂的屋顶等应用
更加完善,确保安全可靠
漏电流保护、SVG功能、LVRT、直流分量保护、绝缘阻抗检测保护、PID防护、防雷保护、PV正负反接保护等不断完善的功能,逆变器对电网的适应能力进一步增强,不断完善的保护功能
、光致衰减低、实证发电高、抗PID能力强等优势,可实现项目发电量的最大化,提升整体收益。如叠加双面伴侣(平单轴支架+中来独创铝瓦增发反射)技术,更可令项目发电收益增加三成。 未来5年,中来期望携手政府