索比光伏网讯:本文主要了解,晶体硅光伏组件的电位诱发衰减(PID)之实验室对晶体硅光伏组件的PID测试和评估目前在国际电工委员会(IEC)层面上,还没有出台有关实验室进行PID测试和评估的正式标准
不确定PID发生的电压极性,则2中极性的偏置电压下,需分别进行试验;反之,则选用已知的PID发生的电压极性。对某个极性的试验包括2个组件(也可能需要一个附加的控制组件),样品应该按IEC60410的
(PotentialInducedDegradation,PID)、极性化、电解腐蚀和电化学腐蚀。上述现象大多数最容易在潮湿的条件下发生,且其活跃程度与潮湿程度相关;同时组件表面被导电性、酸性、碱性以及带有离子的物体的污染程度,也
尽可能的均匀分布在一时间段内,避免集中导通、关断给电源带来的冲击。它既具有类似调压式的控制优点,又克服了PwM方式的不足,负载加热功率更均匀,有利于提高PID仪表的调节品质。缺点是当输出百分比小时,会出
现低频闪烁现象,对电网有一定干扰。综合考虑,CYC周波过零控制方式更加符合灯管辐射加热的要求。2热电偶的选择在1000℃以下网带烧结炉中,目前均采用带陶瓷护管的K分度来检测温度,精度高、成本低廉。由于偶