LeTID
机械载荷能力; ◆ 采用掺镓硅片，降低热斑温度、低LeTID 及LID; ◆ 通过优化边框结构及材质设计，提高稳固性; ◆ 超长质保，品质可靠。 04 低电压 ◆ 低电压带来单串可串组件
)、光致衰减(LID)+光热诱导衰减测试(LeTID)等多项可靠性加严测试，相比于基础测试，PQP测试无论是从测试条件上，还是测试序列上，都更加严苛，每项测试对于组件在实际应用场景下的可靠性都有重大参考意义
通过热循环、湿热和LID/LeTID敏感性在内的各种测试程序得出的结果的基础上，PVEL的光伏组件产品认证计划(PQP)对太阳能组件进行了评分，目的是为组件制造商的比对提供经验数据，同时也为上游
2000小时、静态机械载荷+动态机械载荷+热循环50次+湿冻10次、电位诱导衰减测试PID192小时，光热诱导衰减测试LeTID测试，以及PAN & IAM profile发电量模拟测试和户外实证，并在
。其无LID和LETID风险，低温度系数、高可靠性等优势，对进一步降低度电成本提供了有力的保障，度电成本甚至可跟高效PERC电池相媲美，同时为TOPCon技术进一步在全行业推广做出革命性贡献
(光致衰减)与LeTID(光热致衰减)问题，结合多主栅、半片技术，组件的可靠性得到提升。晋能科技还推出PERC双面组件，在不同环境下，组件背面可产生5%-25%的额外发电量，同时该组件可选择透明背板
测试仪、LID+LeTID光衰平台等大型设备10余台套，能够开展光伏组件的性能测试、环境模拟测试和老化测试试验。
陕西众森电能科技有限公司依靠强大的研发团队
，针对光伏电站和组件生产过程的测试需求，不断创新，开发了大面积、长脉冲的组件模拟器、双面同步闪光组件功率测试仪、LID和LeTID测试平台以及光伏电站移动检测平台等设备。而PV Test实验室在公司大量
63342 Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test for c-Si Photovoltaic (PV
) modules: Detection 晶硅光伏组件高温辅助光致诱导衰减测试
目前状态：CD草案将于本月提交。
- 正式写法统一为LETID。- 升温条件: 当温度达到要求时再通入电流。- 对标准中的
会加速PID效应，加快数据的收集。
IEC TS 63342 LETID测试
Light and elevated temperature induced degradation (LETID
是否继续，如果2个循环之后，功率衰减超过3%，可能还需要进行第3个循环来检查组件最大的LETID功率衰减程度。
定义如果功率衰减超过3%为LETID敏感组件，具体计算时需要和IEC 61215一样
(PV)器件的等效电池温度(ECT)
IEC 60891 光伏器件 I-V实测特性的温度和辐照度修正方法
IEC 63342晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试
IEC
晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试(项目组长Max Kntopp)
目前草案处于CD准备阶段，即将提交
高温辅助光致衰减(LETID)是导致多晶硅光伏电池及PERC组件衰减的
