LeTID测试
：由于N型TOPCon电池正面金属Ag/Al浆料的特性，N型组件对PID及湿热环境较为敏感，英利从设计、材料及工艺等多维度对熊猫3.0组件升级，使其经加严IEC标准老化测试后，功率衰减不超过2%。针对
“大尺寸”应用导致的载荷风险提升，英利从设计端及材料端入手，在保证组件双面率的同时，使“大尺寸”熊猫N型TOPCon组件的抗载荷性能充分满足市场需求。另外，在完成内部可靠性加严测试、评估的同时
载荷能力。晶科的N型组件产品在多压块等方式都做过测试。记者问： N 型TOPCon产品与异质结产品有什么技术差别、性能差别以及在经济性层面的差距?钱晶答：目前不管是从极限效率还是量产效率来看
距离内组件连接头需要做防护或增加防尘塞。盐雾能力：晶科常规N型组件具备盐雾6
认证(对应防腐等级C5)。22年日本等市场提出盐雾8需求(对应防腐等级CX)，因此，部分版型组件盐雾8测试进行中
photovoltaic (PV) modules - Light and elevated
temperature induced degradation (LETID) test - Detection
：此处也可采用最大功率的双面率替代。IEC 61215-1测试序列目前存在以下疑问：E序列静态机械载荷测试结束后进行弯曲测试，然而柔性组件需与刚性结构结合进行静态机械载荷，后续无法进行弯曲测试。热斑测试
使光伏组件产生较大的输出功率衰减。在高温、高湿的环境下也有可能出现类似LeTID 衰减的现象，目前对 LeTID 衰减主流的测试条件是温度为 75 ℃、测试电流值为 Isc–Impp，但在实验室多次
热斑温度;2)阿特斯内部严格的红外和漏电流管控技术进一步降低极端热斑风险。图：不同版型热斑温度实测3.独到的LeTID控制技术为应对LeTID-热辅助光致衰减(其是在较高温度和光照复合作用下的衰减机理
)，阿特斯通过硅片端杂质和掺杂剂的管控和电池片生产工艺的优化、电池和组件端严苛的CID日常监测要求，将组件的LeTID衰减降低50%以上，平均衰减控制在0.4%左右。图：阿特斯LeTID内部管控措施2022
已被证实不易出现LID和LeTID问题，但也有一些证据表明其容易受到紫外线诱导的降解(UVID)的影响。例如，在进行人工加速紫外线暴露测试后，SLAC国家加速器实验室和国家可再生能源实验室(NREL
2022年，RETC可再生能源测试中心密切关注着一个正在获得市场青睐和认可的技术趋势：带有钝化触点的下一代n型光伏电池的崛起。这些下一代n型光伏电池对于太阳能行业在继续降低成本以及提高性能领域
192hrs)、户外曝晒(Field Exposure 6 Months×2)、光热诱导衰减测试(LeTID 162hrs×3 )等多项加严测试。晶澳组件在测试中的表现出色，并七次获评PVEL
首创了CID量产监控技术。阿特斯组件的抗LETID衰减性能也得到了第三方认可，属于行业领先水平，也因此牵头承担晶体硅电池LETID衰减测试方法IEC标准的制定工作。阿特斯将电池LETID衰减抑制技术应用
、PID测试、热循环测试(TC600)、组件效率、光热诱导衰减测试(LeTID)、PTC-TO-STC ratio、PAN file测试、Thresher Test等多项严苛测试，每项测试对于组件在实际
、LETID、组件效率、实测功率、发电量表现等性能做出了统计排名。最后，报告以综合单项加严测试(其中每一项测试都严于标准IEC测试的最低要求)和大直径 (45mm)冰雹实验的结果作为评定质量指标
