IV测试

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光伏电站电池板横放与竖放对发电量影响分析【精华】来源:华为智能光伏电站解决方案 发布时间:2014-08-17 23:59:59

影响图4为竖向早晚遮挡情况图,60个电池小片下面的部分电池小片被遮挡示意图。每小串电池都有电池片被遮挡,所以电池组件的最大输出电流由被遮挡的电池片限制。如图6正常电池片IV曲线为i1,由于电池片电流和
光照相关,被遮挡电池片电流急剧下降,IV曲线为i2,串在一起的组件输出IV曲线i3,组件输出功率大大减少。3.2遮挡对横向放置组件影响图7为横向早晚遮挡情况图,60个电池小片下面的部分被遮挡。由于单元

【光伏技术】向PID say:NO!来源:世纪新能源网 发布时间:2014-08-11 23:59:59

】,通过对比明显可以看出PID效应对太阳能电池组件的输出功率影响巨大,是光伏电站发电量的恐怖杀手。功率对照表I-V曲线(PID效应测试前)IV曲线(PID效应测试后)2、为什么会发生PID效应?通过

光伏设备订单:日本CIC启用梅耶博格的“SpotLIGHT”电池测试来源:PV-Tech 发布时间:2014-07-10 10:32:17

光伏组件内的异质结(HJT)和无栅线太阳能电池。 Pasan的SpotLIGHT电池测试仪几年前开发,以支持具有高容量的电池的性能测量,如HJT,并为精密的IV测量采用氙源与LED混合配制
日本技术和设备制造商Choshu Industry Corporation (CIC)日前安装梅耶博格(Meyer Burger)旗下子公司Pasan的SpotLIGHT电池测试仪,用于研究下一代

设备订单:日本CIC启用梅耶博格的“SpotLIGHT”电池测试来源:pv-tech 发布时间:2014-07-09 23:59:59

仪,用于研究下一代光伏组件内的异质结(HJT)和无栅线太阳能电池。Pasan的SpotLIGHT电池测试仪几年前开发,以支持具有高容量的电池的性能测量,如HJT,并为精密的IV测量采用氙源与LED混合配制
索比光伏网讯:日本技术和设备制造商Choshu Industry Corporation (CIC)日前安装梅耶博格(Meyer Burger)旗下子公司Pasan的SpotLIGHT电池测试

Praxis Resources推出IV曲线追踪仪,以满足光伏现场测试需求来源:PV-Tech 发布时间:2014-06-26 08:30:28

光伏阵列性能分析和得出直接性能反馈的关键。 针对问题 大多数IV曲线追踪器无法测试1800V和50A的设备。大规模太阳能电站需要一套牢固、用户友好型一体化系统,以及一台能够在阳光直射下正常
Praxis Resources公司日前推出新款PCT-1800IV曲线追踪仪。该产品具有较好的抗震性,操作简易,具有用户友好型界面。10.4的大型彩色触摸LCD面板和集成电脑是生成IV曲线、完善

太阳能光伏发电系统的电气效率研究来源:21spv 发布时间:2014-06-16 09:53:51

垂直距离来改变阴影的遮挡比例,从而获得比较一致的遮挡比例。 首先用光伏组串I-V特性现场测试仪分别测量两个光伏发电系统的光伏阵列在各种面积的阴影下的IV曲线,我们得到的结果如下图所示
的光伏发电系统,并使用室外太阳能测试设备采集数据。分别在正常工作状态和光伏阵列有部分遮挡时,对组串型光伏发电系统和交流组件型光伏发电系统的电气效率进行测量和比较分析。实验结果表明:在光伏发电系统中使

光伏电站发电量损失研究来源:阳光工匠光伏网作者:罗宇飞 发布时间:2014-06-15 23:59:59

时候是阴影遮挡时间最长的,所以我们可以选冬至日来测量,比如我们在冬至日下午4点的时候,测出光伏阵列的IV特性曲线,得到有阴影时的最大功率,然后再根据测出来的开路电压和短路电流估算出阵列在没有阴影遮挡时
的沉积,灰尘遮挡造成的能量损失比率也具有不确定性,不同地区的差异很大,只有通过长期的现场观察才能得到一般规律。可以在现场放几块玻璃,然后定期对玻璃进行透光率测试,就可以估算灰尘遮挡造成的能量损失了

光伏电站价值提升策略:运维管理完全手册来源:世纪新能源网 发布时间:2014-06-03 13:52:10

传感器、IV曲线测试设备、电能质量分析仪、耐压仪、绝缘电阻测试仪、接地电阻测试仪、接触电流测试仪、方阵残余电流监测功能测试设备;13、防护工具:安全帽、绝缘手套、绝缘鞋、安全标志牌、安全围栏、灭火器;14

光伏电站价值提升策略之运维手册来源:世纪新能源网 发布时间:2014-06-02 23:59:59

拆装所需的工具,及其它电站运营维护中可能用到的工具。 12、测试工具:万用表、示波器、电流钳、红外热像仪/温度记录仪、太阳辐射传感器、IV曲线测试设备、电能质量分析仪、耐压仪、绝缘电阻测试仪、接地

晶硅PID组件弱光性能研究来源:SOLARZOOM 发布时间:2014-05-26 23:59:59

组件,文献中介绍的有使用手持EL测试、户外IV测试、Dark -IV测试、红外热像仪、开路电压测试等等方法,在这几种方法中,开路电压测试法由于其操作简便、省时等特点较为常用,但此种方法并不适用与全天任何