背板EVA

2013年，硅料成本下降了65%，后续趋于平缓；组件成本在2013年以前主要依托于多晶硅价格的下降，而2013年之后则仅仅依靠背板、EVA、玻璃等辅材价格下降来满足总成本下降，但目前辅材的下降空间也已非

，并作为选型的重要依据，技术标准应覆盖关键设备的关键性能，同时也要具体到重要元器件的技术性能，如组件EVA关联度、背板耐紫外老化性能、逆变器防雷性能等。另外，在项目实施阶段即设备制造、到货验收和设备安装

，技术标准应覆盖关键设备的关键性能，同时也要具体到重要元器件的技术性能，如组件EVA关联度、背板耐紫外老化性能、逆变器防雷性能等。另外，在项目实施阶段即设备制造、到货验收和设备安装阶段应进行全面严谨的

EVA，焊带以及背板，不同厂家在工艺水平上接近，但是在玻璃上存在很多不同的压延辊，间接出现了不同的压花面，虽然在功率测试上没有大的区别，但是在发电量上，由于结构面对不同入射角上光学的不同响应，合理的结构面将有助于提升发电量水平。 无

单多晶组件CTM不同的内在原因。　　1、组件CTM影响因素影响CTM的因素很多，包括：A.光学损耗：制绒绒面不同引起的光学反射、玻璃和EVA等引起的反射损失。B.电阻损耗，电池片本身的串联电阻损耗、焊带
单晶和多晶电池片光谱效应QE的差异。电池片封装成组件后的QE曲线可以发现在420nm处开始吸收太阳光，在350nm以内的紫外区域入射光全部被封装材料玻璃、EVA等吸收，从而导致可以产生光生电流的光子数目

组件CTM不同的内在原因。1、组件CTM影响因素影响CTM的因素很多，包括：A.光学损耗：制绒绒面不同引起的光学反射、玻璃和EVA等引起的反射损失。B.电阻损耗，电池片本身的串联电阻损耗、焊带，汇流条本身的
多晶电池片光谱效应QE的差异。 电池片封装成组件后的QE曲线可以发现在420nm处开始吸收太阳光，在350nm以内的紫外区域入射光全部被封装材料玻璃、EVA等吸收，从而导致可以产生光生电流的光子数目减少

成正相关。其中常见开裂，外观变黄，风沙磨损，热斑，组件老化都可以加速组件功率衰减。3）PID电势能诱导衰减。这种衰减存在于组件内部电路和其接地金属边框之间的高电压会造成组件的功率衰减，还与玻璃、背板
、EVA、温度、湿度和电压有关。　　2衰减率测试数据单晶和多晶，到底哪种在实际应用中衰减少一些？很多光伏组件厂家针对这一问题做了大量的研究工作。为了说明问题，本文仅引用了第三方的研究数据，来对单晶和多晶

。关于背板的劣化，背板上附着的醋酸气体（CH3COOH）残量认为可能与输出功率的降低率有关联。醋酸气体是保护玻璃与背板之间填充的封装材料EVA（乙烯-醋酸乙烯酯共聚物）产生的。因此，对背板附着的醋酸气体