组件功率衰减

组件功率衰减50%以上，从而影响整个电站的功率输出。近年来这已经成为国外买家投诉国内组件质量的重要因素之一。PID测试通过模拟组件在光伏发电系统中的实际应用条件，验证组件抗PID性能，而此性能也成为反映组件
Potential Induced Degradation，缩写PID，电势诱发衰减测试），并为其多晶系列组件颁发了Anti-PID证书，天合光能也成为首家获得TUV南德意志集团PID认证标识的企业。据了解，一些

机制包含电位诱发衰减、极化、电解腐蚀、电化学腐蚀。严重时候，它可以引起一块组件功率衰减50%以上，从而影响整个电站的功率输出。近年来这已经成为国外买家投诉国内组件质量的重要因素之一
Voltage Durability Test(即俗称的Potential Induced Degradation，缩写PID，电势诱发衰减测试)，并为其多晶系列组件颁发了Anti-PID证书，天合光能也成为

机制影响，这些退化机制包含电位诱发衰减、极化、电解腐蚀、电化学腐蚀。严重时候，它可以引起一块组件功率衰减50%以上，从而影响整个电站的功率输出。近年来这已经成为国外买家投诉国内组件质量的重要因素之一。TUV南德意志集团认证标志

。近年来PID已经成为国外买家投诉国内组件质量的重要因素之一，严重时候它可以引起一块组件功率衰减50%以上，从而影响整个电站的功率输出，国际上已经许多企业对组件的PID现象进行分析。 根据
的稳定敏感性。阿特斯的光伏组件再次展示了其高品质产品的地位。 PID(Potential Induced Degradation)意为电位诱发衰减测试，一些电站实际使用表明，光伏发电

投标人2011年应具有国内累计安装业绩2MW及以上，需提供用户的安装证明文件;10)光伏组件应提供至少10年的质保期。保证25年使用寿命，保证10年光伏组件功率衰减小于10%，保证25年光伏组件功率衰减

组件功率最高达255瓦，目前神鸟组件已实现量产。路博士介绍道。路博士指出，在此次SNEC展会上，其它企业也推出了名为mono-lik或者是quasi-mono(译为准单晶)的产品。然而，与天威的神鸟产品
可能产出90%以上的I级类单晶硅片，这就大大降低了I级高质量类单晶硅片的成本。其二，我们做的是产业链，从硅片、电池及组件工艺都重新进行了针对性的优化设计，因此神鸟电池组件产品在输出功率、衰减、可靠性

研发团队孕育的结晶神鸟电池采用公司自主开发的类单晶硅片并结合公司先进的电池工艺，平均转换效率达到18%，通用组件功率最高达255瓦，目前神鸟组件已实现量产。路博士介绍道。路博士指出，在此次SNEC展会
做的是产业链，从硅片、电池及组件工艺都重新进行了针对性的优化设计，因此神鸟电池组件产品在输出功率、衰减、可靠性各方面都得到了充分优化，综合性能比单纯做硅片的，电池或组件的更好。路博士继续解释道。另一

Degradation)是一种高强度负电压诱发的组件性能降低现象。PID效应在电站实际运行中并不鲜见，严重时甚至可引起组件功率衰减50%以上，从而导致整个电站的功率输出下降，继而严重损害投资者的利益。 目前, 行业

，未涉及电池片光致衰减（LID）导致的组件输出功率下降等问题。图2 不同厂家玻璃的透射率曲线（玻璃厚度3.2毫米）图3 不同厂家EVA的透射率曲线（膜厚1.5毫米）图4 常规电池高高方阻电池的
问题。因此，需要选用适合宽度和厚度的焊带制作组件，才能防止过多的组件功率损失在焊带上。焊接工艺也严重影响组件的功率，如果组件焊接过程中存在虚焊、漏焊等焊接不良的问题，会造成较高的接触电阻，降低组件的输出

了一些初步的结论，可为组件公司提高产品性能提供参考。另外我们只针对组件封装时的功率损失进行了研究，未涉及电池片光致衰减（LID）导致的组件输出功率下降等问题。　　封装损失的分析常规晶体硅太阳电池组件的
，所以焊带宽度也不应变化。因此考虑增加铜带的厚度，而焊带变厚会带来焊接时电池碎片问题。因此，需要选用适合宽度和厚度的焊带制作组件，才能防止过多的组件功率损失在焊带上。焊接工艺也严重影响组件的功率，如果组件