栅线

系统，成功将多晶背钝化电池转换效率提升至19.6%的水平。这款新的高效蓝宝石系列电池的设计还包括了四条主栅线以及低光致衰减（Light Induces Degradation， LID），在60片

将产能在2016年再提升20%以上。作为一款集金属化与测试分选于一体的平台，Tempo系统能支持应用材料公司独特的细线二次印刷（FLDP）技术，最大限度地减少细栅线副栅断栅，从而生产出高转换效率的电池

）、硅表面的光反射损失以及前栅线电极的遮挡损失。（2）电学损失，包括半导体表面及体内的光生载流子（电子-空穴对）的复合损失、半导体与金属电极接触的欧姆损失。光学损失和电学损失中的欧姆接触损失非常容易

栅线电极的遮挡损失。（2）电学损失，包括半导体表面及体内的光生载流子（电子-空穴对）的复合损失、半导体与金属电极接触的欧姆损失。光学损失和电学损失中的欧姆接触损失非常容易理解，而光生载流子复合损失

的光反射损失以及前栅线电极的遮挡损失。（2）电学损失，包括半导体表面及体内的光生载流子（电子-空穴对）的复合损失、半导体与金属电极接触的欧姆损失。光学损失和电学损失中的欧姆接触损失非常容易理解，而光生载流子

the Aspect Ratio of Solar Cell metal Finger by Confocal Laser Scanning Microscope/太阳能电池电极栅线高宽比测试：激光扫描共聚

发布的三项SEMI国际标准PV65-0715《基于RGB的晶体硅太阳能电池颜色测试方法》、PV66-0715《太阳能电池电极栅线高宽比测试：激光扫描共聚焦显微镜法》和PV67-0815《晶体硅片腐蚀速率测试方法：称重法》的发布牌在此次会议上获得颁发。

PV65-0715《基于RGB的晶体硅太阳能电池颜色测试方法》、PV66-0715《太阳能电池电极栅线高宽比测试：激光扫描共聚焦显微镜法》和PV67-0815《晶体硅片腐蚀速率测试方法：称重法》的发布牌

国际标准PV65-0715《基于RGB的晶体硅太阳能电池颜色测试方法》、PV66-0715《太阳能电池电极栅线高宽比测试：激光扫描共聚焦显微镜法》和PV67-0815《晶体硅片腐蚀速率测试方法：称重法》的发布牌在此次会议上获得颁发。

Microscope/太阳能电池电极栅线高宽比测试：激光扫描共聚焦显微镜法由英利牵头编制 　　 　　SEMI PV67-0815 Test Method for the Etch Rate