晶体硅片

：2005地面用晶体硅光伏组件的设计鉴定和定型》、《IEC61730-1：2004光伏组件安全鉴定之结构要求》、《IEC61730-2：2004光伏组件安全鉴定之实验要求》和《UL1703：2004
（draft）电势诱导衰减效应测试标准》、《IEC62716：2010光伏组件的氨气腐蚀测试标准》。中国质量认证中心根据我国不同地域的气候环境推出的《CQC3303-2013地面用晶体硅光伏组件环境

发布的三项SEMI国际标准PV65-0715《基于RGB的晶体硅太阳能电池颜色测试方法》、PV66-0715《太阳能电池电极栅线高宽比测试：激光扫描共聚焦显微镜法》和PV67-0815《晶体硅片腐蚀速率测试方法：称重法》的发布牌在此次会议上获得颁发。

PV65-0715《基于RGB的晶体硅太阳能电池颜色测试方法》、PV66-0715《太阳能电池电极栅线高宽比测试：激光扫描共聚焦显微镜法》和PV67-0815《晶体硅片腐蚀速率测试方法：称重法》的发布牌
《光伏组件用封框胶带》和《基于RGB的晶体硅太阳能电池颜色测试方法》等4项SEMI标准已经顺利发布，SEMI标准主编和发布数量均位于行业前列。另外英利还是SEMI中国光伏标准委员会电池工作组组长单位，承担国内

国际标准PV65-0715《基于RGB的晶体硅太阳能电池颜色测试方法》、PV66-0715《太阳能电池电极栅线高宽比测试：激光扫描共聚焦显微镜法》和PV67-0815《晶体硅片腐蚀速率测试方法：称重法》的发布牌在此次会议上获得颁发。

of a Crystalline Silicon Wafer by Determining the Weight Loss/晶体硅片腐蚀速率测试方法：称重法由英利牵头编制 　　 　　SEMI PV68-0815
PV65-0715 Test Method for (C-Si) Solar Cell Color/晶体硅太阳电池颜色测试方法由英利牵头编制 　　 　　SEMI PV66-0715 Test

学术会议上作数十次报告；曾多次作为国际光伏会议的分会组织者，有近三十篇学术文章收录会议论文集，作为作者或合作者发表专著3本。 万跃鹏的研究涉及光伏及半导体硅材料、硅晶体、硅片加工以及硅材料回收
，这与万跃鹏的工作密不可分。万跃鹏带领着他的团队不断进行新产品、新工艺和设备国产化的研发，以及硅料回收利用、硅晶体的生长技术、低成本低能耗高产出的长晶设备、硅片切割清洗工艺的改进及提高。 公司要领

Loss/晶体硅片腐蚀速率测试方法：称重法由英利牵头编制SEMI PV68-0815 Test Method for the Wire Tension of Multi-wire Saws/多线切割张力
) Solar Cell Color/晶体硅太阳电池颜色测试方法由英利牵头编制SEMI PV66-0715 Test Method for Determining the Aspect Ratio

三十篇学术文章收录会议论文集，作为作者或合作者发表专著3本。万跃鹏的研究涉及光伏及半导体硅材料、硅晶体、硅片加工以及硅材料回收等等。曾获得并主持承担多项美国联邦政府资助的有关太阳能电池硅晶材料与半导体
技术研发团队，着手成立国家光伏工程技术研究中心。团队研究涉及光伏硅料、硅片、电池、组件、应用及前沿技术探索等领域，通过技术引进、消化、吸收再创新的方法，开创出大尺寸多晶硅铸锭炉技术，在原有GT铸锭炉

研究中心被国家科技部认定为我国光伏领域第一家国家级国际联合研究中心。与美国杜邦、德国瓦克、睿纳等国际知名企业建立了长期合作关系，掌握从高纯硅材料制备、高质量晶体硅生长、超薄硅片切割、高效太阳能电池

晶体硅组件占每年全球光伏市场需求的90%以上，是主流光伏产品技术。晶体硅光伏产业链包括5个环节：多晶硅料、长晶、硅片、电池、组件。在长晶环节，晶体硅技术分化为单晶和多晶两条路线。 单晶和多晶的主要