:指单晶硅片表面需要改善微缺陷,从而获得高平坦度晶片的抛光。
抛光的设备:多片式抛光机,单片式抛光机。
抛光的方式:粗抛:主要作用去除损伤层,一般去除量约在10-20um
的电子元件。CZ法所以比FZ法更普遍被半导体工业采用,主要在于它的高氧含量提供了晶片强化的优点。另外一个原因是CZ法比FZ法更容易生产出大尺寸的单晶硅棒。
目前国内主要采用CZ法
CZ法
,其中采用多刀砂轮进行表面刻槽,对10cmX10cm面积硅片的工序时间可降到30秒,具有了一定的实用潜力。 多孔硅作为多晶硅太阳电他的减反射膜具有实用意义,其减反射的作用已能与双重减反射膜相比
,成本昂贵。现在已经开发出多线切割法,可以切出很薄(~100Pm)的硅片,切割损失小(~30%),硅片表面切割损伤轻,有利于提高电池效率,切割成本低。2.1.2多晶硅材料 由于硅材料占太阳电池