光伏咨询搜索-索比光伏网

摘要：p型单晶硅太阳电池在el检测过程中，部分电池片出现黑斑现象。结合x射线能谱分析(eds)，对黑斑片与正常片进行对比分析，发现黑斑片电池与正常电池片大部分表面的成分相同，排除了镀膜及丝网印刷
过程中产生黑斑的可能。利用x射线荧光光谱分析(xrf)测试了同一电池片的黑斑区域与正常区域，发现黑斑处ca含量较大，并出现sr、ge和s等杂质元素。将6个档位的电池片制备成2cm2cm的电池样片，利用光生

出来的电池片在EL测试过程中会显示为类似履带印的图像(见图7)。实际生产中可通过优化烧结工艺参数或选择点接触及边缘接触方式的炉带以有效的消除履带印问题。 2.5、黑芯、黑斑黑芯片在EL
测试图中显示为从电池片中心到边缘逐渐变亮的同心圆，它们产生于拉晶阶段，与硅棒制作过程中氧的溶解度和分凝系数大有关。黑斑片在EL测试图中成像黑斑点分布在电池片中，主要是由于硅料受到其他杂质的污染，使得硅片

，组件上部分电池片出现黑斑现象。夜晚，ANTIPID在组件内部和大地之间施加正向电压，电池片表面正离子远离电池片表面，对PN节的影响消除，PN节恢复了对外输出电子和空穴的能力
。从EL上来看，组件上黑斑消失。 ANTPID可以安装在逆变器的直流侧，直接从逆变器处获取交流电源，工作时施加400-1000V(300-900V)电压于组件负极和接地之间。并能自动检测

，包括黑心片、黑斑片等材料缺陷;碎片、隐裂等电池缺陷;电池或组件制备工艺缺陷，例如断栅片、暗片、黑片等;组件使用过程中的失效缺陷，例如二极管击穿缺陷、PID缺陷等等记者：那针对这些缺陷，有什么相对
可以知道，光伏组件中所有能引起内部电池少子寿命降低的缺陷都通过EL图像反应，例如黑心片、黑斑片等材料缺陷，以及碎片、隐裂等电池缺陷。黑心片　黑斑片黑心片和黑斑片主要跟电池制备所用的

，包括黑心片、黑斑片等材料缺陷；碎片、隐裂等电池缺陷；电池或组件制备工艺缺陷，例如断栅片、暗片、黑片等；组件使用过程中的失效缺陷，例如二极管击穿缺陷、PID缺陷等等记者：那针对这些缺陷，有什么相对
知道，光伏组件中所有能引起内部电池少子寿命降低的缺陷都通过EL图像反应，例如黑心片、黑斑片等材料缺陷，以及碎片、隐裂等电池缺陷。黑心片

即可反应组件内部电池缺陷情况。二、EL测试仪反应缺陷类型 (1)根据EL测试仪原理可以知道，光伏组件中所有能引起内部电池少子寿命降低的缺陷都通过EL图像反应，例如黑心片、黑斑片等材料缺陷
，以及碎片、隐裂等电池缺陷。黑心片和黑斑片主要跟电池制备所用的硅材料有关，有黑心片和黑斑片的电池少子寿命较低，对组件输出功率也会有影响。电池碎片和隐裂片一般由外力