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98.6%，完美适配大电流组件和PID等功能，发电量显著提升约3%。应用于工商业的SPI-40K-B X2系列逆变器，高功率密度设计使其成为业内体积最优的逆变器，大幅节省运输、库存和安装
+储能产品解决方案覆盖户用、工商业、地面电站三大应用场景。光伏解决方案展品包括SPI8-40K-BX2系列新款逆变器、SPI125K-B组串式逆变器、SPI250K-B-H1500V组串式逆变器;储能

公正性的法人、其他组织或者个人不得参加本招标项目投标;单位负责人为同一人或者存在控股、管理关系的不同单位，不得同时参加本招标项目投标，否则投标均无效。 b)投标人在投标截止日近 3 年内未发生任何
等国际认证),并提供相应的认证检测报告; (2) IEC61701认证(盐雾腐蚀认证),并提供相应的认证检测报告; (3) 抗PID认证，并提供相应的认证检测报告。 2)业绩要求：投标人必须

61730-1、IEC61730-2标准的型式试验认证(可以是金太阳，或是TUV、VDE、UL、CSA、JET、SGS等国际认证),并提供相应的认证检测报告。 b)IEC61701认证(盐雾腐蚀认证),并提
供相应的认证检测报告 c)抗PID认证，并提供相应的认证检测报告。 (13)业绩要求：投标人必须具有三年以上相关产品独立生产、供应和售后服务的能力。2018年晶体硅组件年出货量不低于

、IEC61730-2标准的型式试验认证(可以是金太阳，或是TUV、VDE、UL、CSA、JET、SGS等国际认证),并提供相应的认证检测报告。 b)IEC61701认证(盐雾腐蚀认证),并提供相应的认证检测
报告 c)抗PID认证，并提供相应的认证检测报告。 (13)业绩要求：投标人必须具有三年以上相关产品独立生产、供应和售后服务的能力。2018年晶体硅组件年出货量不低于1000MWp、2019年晶体硅组件

BSI 或者1.25 x aBSI /ISC。　　IEC 61730-2 ed3.0 　　目前在CDV阶段，工作组目前主要讨论内容如下：　　B序列是否分成正面和背面两个测试序列，若分成两个并行
序列，和原有序列相比，单块组件的UV测试量减少一半。根据与会专家的讨论，B序列中的UV测试量远小于IEC 62788中测试量，所以是否分成两列区别不大。　　哪些测试可以用代表性样品，计划准备一个

为功能性要求，并将增加相应示意图在条目5中阐明绝缘距离DTI的概念以及相关材料的测试要求以及附录B内容明确各项术语定义及测试要求，并允许新颖的组件型式设计(如减小电池片间隙)，具体修改内容仍在进一步讨论
参考标准针对减小内部带电部件到外部可接触表面之间的距离的方式进行编辑性修改并举例，例如材料组别(相对漏电起痕指数CTI)、用以减小爬电距离的测试序列B.1、脉冲电压及绝缘测试、胶合的使用

指由过渡金属元素(如第IV B族元素钛、锆、铪)或稀土金属元素和至少一个环戊二烯或环戊二烯衍生物作为配体组成的一类有机金属配合物，常用的配体有环戊二烯基、茚基、芴基等。茂金属催化剂与一般传统的
产生醋酸，27.9%是由于POE胶膜拥有更好的抗PID能力。光伏行业保持高景气度，未来增长性明确。现阶段，国内外光伏行业景气度持续向上，全球光伏装机量快速增长。中长期看，全球以及国内碳中和政策正

：B扩表面钝化技术的研究、 B扩表面钝化接触的研究、N型电池的金属化的研究、poly接触钝化技术的研究、poly刻蚀技术的研究、高阻密栅电池发射极优化、BSG刻蚀技术的研究、PERC电池机载改善的研究
钛白粉母粒的研究与制备、抗PID-p聚烯烃封装胶膜的研发、75微米减薄款反光贴膜的研发、高粘结强度的白色EVA胶膜的研发、光伏组件用高光电转换效率封装胶膜的研发、单玻组件高抗PID的EVA胶膜开发

(MST 32)。- 铭牌和使用说明与IEC 61215统一。- 对绝缘配合 (5.6.3)、绝缘厚度 (5.6.4) 和附录B进行了修改。- 简化了电气间隙、爬电距离和绝缘厚度要求的表格3和4
-电势诱导衰减测试方法第2部分：薄膜组件目前状态：DTS准备中。针对薄膜组件的PID测试，提出了环境箱和户外测试相结合的方法，其中环境箱测试可以选择无辐照不通电的条件或者加光照及通电流的条件

中，计划最终以类似于IEC TS63126的技术规范的形式发布降低热斑设备要求 RETC提议将稳态模拟器的光谱匹配度和光强均匀性由现在的B级降到C级。与会专家展开了热烈讨论。多数转件认为，光谱匹配
定义电气端子，哪些是接线盒标准IEC 62790没有考虑到的精简目前给出的材料组合测试方案完善薄膜组件部分的重测导则 IEC 62804 PID测试 -1是关于晶硅组件的PID测试，增加了

T1的偏差值从5s改为3.12s; 依旧需要讨论的问题：是否需要删除ClassIII组件的几个测试; 超大组件是否启用新的附录; 关于B序列中紫外老化测试时两块组件是否可以并联并行
的评论及处理结果。项目组已经针对评论做出以下相应修改：定义LETID 作为标准术语; 同意加速测试条件：组件达到达到75C后可直接注入电流; 修订对测试过程以及B-O LID 预处理的描述

。 2. 测试样品要求更新- 大尺寸组件可以使用小样做测试，小样必须满足以下要求： a)电气特性、机械性和热性能需与全尺寸组件保持最大程度相似性。 b)电池片、封装、互联、终端连接、电气间隙、爬电距离
，测试实验室应采用以下至少一种方法验证：a)制造商提供信息说明电池片背面完全金属化;b)制造商提供背板的光谱分辨传输数据;c)根据IEC 60904-1-2测试一块样品的双面系数。 3. 铭牌和文

，因背面发电不受积雪影响，发电同时发热可使正面积雪融化、滑落。为了具体验证P型双面组件在不同场景、不同气候条件下的发电增益与发电稳定性，隆基联合中国电器研究院(CEI)、B&V、TV南德
单面组件在各种场景应用一年后，衰减均低于2%的质保值，双面组件的双面率保持稳定(印证了隆基双面组件的抗LID与PID性能); ③搭配跟踪支架时双面组件也有可观的发电增益：组件正面追踪太阳光没有对背面受

同时参加本招标项目投标，否则投标均无效。b)投标人及其分包商在投标截止日近3年内未发生任何违约行为或属自身或分包商的原因而被终止合同，且不在重大质量、安全事故处罚期内(由投标人出具承诺函)。c)投标人
)IEC61701认证( 盐雾腐蚀认证) ,并提供相应的认证检测报告: (3) 抗PID认证，并提供相应的认证检测报告。2)业绩要求:投标人必须具有三年以上相关产品独立生产、供应和售后服务的能力。2017年

b) 面板/背板的耐候性要求移除了所有open rack的引用并更新为与98分位温度(T98th)相关的应用安装方式(详见IEC 63126) 防护等级为Class 0的组件(应用于有限
等级3相关的部分，因为通过了IEC61730-2要求的组件已经不适用此污染等级 b) 增加了最小的DTI的要求为包含最小0.030 mm的厚度(出于对针孔状缺陷的考虑) c) 表3中，需要加强绝缘