光伏咨询搜索-索比光伏网

) 遮挡面积的确定a) 电池片没有遮挡时，对应面积为0%；b) 按IEC 61215 第三版确定Imp时遮挡面积；无热斑组件Imp 的遮挡面积为6.18%；传统组件Imp时遮挡面积
R6封装的二极管上，但测试时，没有再重新灌胶。所测温度都是二极管的 Tc，而不是 Tj。但由于二种封装不一样，无热斑组件中二极管是通过EVA+背板，传统接线盒中二极管 R6 封装是通过环氧树脂表面测得

℃，年平均湿度超过80%。湿热气候地区具有高温、高湿和强紫外等环境特点，对组件中的电池栅线、焊带、EVA、背板等材料有显著影响，在海南使用的光伏组件普遍存在电池栅线和焊带腐蚀、封装材料变色等问题(如图5)，该
另外，从电池片间隙可看到，封装材料EVA黄变严重；部分区域还存在电池片和封装材料脱层现象，在接线盒部位由于水汽通过背面玻璃打孔处导致封装材料严重脱层。这些双玻组件使用铝边框封边，仍不能阻止水汽进入

、亚热带地区：电池焊带被腐蚀海南是我国典型的热带湿热气候地区，年平均气温22~27℃，年平均湿度超过80%。湿热气候地区具有高温、高湿和强紫外等环境特点，对组件中的电池栅线、焊带、EVA、背板等材料有显著影响
功率。图5海南使用15年（安装19年）双玻组件电池腐蚀和封装材料黄变明显另外，从电池片间隙可看到，封装材料EVA黄变严重；部分区域还存在电池片和封装材料脱层现象，在接线盒部位由于水汽通过背面玻璃打孔处

，解释单多晶组件CTM不同的内在原因。 1、组件CTM影响因素影响CTM的因素很多，包括： A.光学损耗：制绒绒面不同引起的光学反射、玻璃和EVA等引起的反射损失。 B.电阻损耗，电池片本身的
本文主要研究了导致组件CTM损失的可能因素，重点分析了造成单晶组件和多晶组件CTM差异的原因。光学损失和B-O复合之间的差异决定了多晶组件的CTM损失要少于单晶组件，对于硼氧复合损失可以想办法改善

单多晶组件CTM不同的内在原因。　　1、组件CTM影响因素影响CTM的因素很多，包括：A.光学损耗：制绒绒面不同引起的光学反射、玻璃和EVA等引起的反射损失。B.电阻损耗，电池片本身的串联电阻损耗、焊带
OFwek太阳能光伏网讯：本文主要研究了导致组件CTM损失的可能因素，重点分析了造成单晶组件和多晶组件CTM差异的原因。光学损失和B-O复合之间的差异决定了多晶组件的CTM损失要少于单晶组件，对于硼

组件CTM不同的内在原因。1、组件CTM影响因素影响CTM的因素很多，包括：A.光学损耗：制绒绒面不同引起的光学反射、玻璃和EVA等引起的反射损失。B.电阻损耗，电池片本身的串联电阻损耗、焊带，汇流条本身的
索比光伏网讯:本文主要研究了导致组件CTM损失的可能因素，重点分析了造成单晶组件和多晶组件CTM差异的原因。光学损失和B-O复合之间的差异决定了多晶组件的CTM损失要少于单晶组件，对于硼氧复合损失

加速组件功率衰减。 3)PID电势能诱导衰减。这种衰减存在于组件内部电路和其接地金属边框之间的高电压会造成组件的功率衰减，还与玻璃、背板、EVA、温度、湿度和电压有关。 2衰减率测试数据单晶和
：单晶硅(绿色)和多晶硅(黄色)的效率是交错排布的。衰减率最低的是D厂家的单晶硅组件，最高的B厂家的单晶硅组件。这张图也说明，组件厂家的生产质量对衰减率的影响，可能高于组件类型对衰减率的影响

、EVA、温度、湿度和电压有关。　　2衰减率测试数据单晶和多晶，到底哪种在实际应用中衰减少一些？很多光伏组件厂家针对这一问题做了大量的研究工作。为了说明问题，本文仅引用了第三方的研究数据，来对单晶和多晶
，如下图所示。　　图5：不同品牌的光伏组件衰减率情况从上图中可以看出：单晶硅（绿色）和多晶硅（黄色）的效率是交错排布的。衰减率最低的是D厂家的单晶硅组件，最高的B厂家的单晶硅组件

白钢化玻璃和背板，以及将钢化玻璃、串并联好的电池片、背板粘合在一起的EVA(热熔胶)。这些材料经过加热、层压后形成光伏组件的主体。最后，为加强光伏组件的强度以及防止水和空气从侧面进入层压结构，一般都会
，同样是晶硅组件，不管是单晶硅还是多晶硅，其材料主要包括电池片、焊带、钢化玻璃面板、EVA、背板、硅胶、铝合金边框等。所有的这些材料都存在质量和品级的差别，因此最终的成品其质量品级也有着天壤之别。如电池片

其中的超白钢化玻璃和背板，以及将钢化玻璃、串并联好的电池片、背板粘合在一起的EVA(热熔胶)。这些材料经过加热、层压后形成光伏组件的主体。最后，为加强光伏组件的强度以及防止水和空气从侧面进入层压结构
单晶硅还是多晶硅，其材料主要包括电池片、焊带、钢化玻璃面板、EVA、背板、硅胶、铝合金边框等。所有的这些材料都存在质量和品级的差别，因此最终的成品其质量品级也有着天壤之别。如电池片的选择、电池片效率的

的老化开展。图4为某电站运营后材料老化的外观图。2.1、EVA老化对光伏组件功率衰减影响把组件分为A、B、C、F806、4组，分别采用4个不同厂家的EVA材料，电池片、玻璃、背板、焊带、边框等材料
、组件初始光致衰减的实验分析本研究采用对比实验的办法，在背板、EVA、玻璃和封装工艺等条件完全一致情况下，采用两组电池片（一组经初始光照，另一组未经初始光照），分别将其编号为I和II。同时，生产出的

看，标准的EVA集中比较好的，就是那种快速的教研的这种，有序密度比较高，效果比较好，这种抗BIB，也是BO材料，BO材料也能起到抗B五效果，高组的或者新型的都可以满足。 LID一个就是说的，基本上如果
，工业上的生产非常高的氧化硅，能够达到目前的客户要求的一个水平。看，这是从电池本身来做的实验，不同的IE材料，一种是蓝色是标准的，另外一种就是是快速交验的eva，比较就是说，低一些，所以这种材料来来

大于35N为合格。 b.EVA与玻璃的剥离强度：方法同上，用拉力计一端夹住EVA，另一端固定住玻璃，拉力大于20N为合格。 6)交联度测试：见交联度测试方法，试验结果在70%-85%之间为合格
。 5.检验规则：以上内容全检，若有一项不符合检验要求则重检。如仍不符合2)。4)。5)项内容则判定该批来料为不合格。三、EVA胶膜 1.检验内容及方式： 1)厂家，规格型号，包装，保质期(六个月

用拉力计拉开TPT与eval，拉力大于35N为合格。b.EVA与玻璃的剥离强度：方法同上，用拉力计一端夹住EVA，另一端固定住玻璃，拉力大于20N为合格。6）交联度测试：见交联度测试方法，试验结果
。三、EVA胶膜1.检验内容及方式：1）厂家，规格型号，包装，保质期（六个月），外观，厚度均匀性，与玻璃和背板的剥离强度，交联度。2）来料抽检，生产过程对剥离强度和交联度在抽检，外观再生产过程全检。2.

降低，导致光伏组件效率下降 B+2O BO2 左边少子寿命高，右边相反总结：硅片中的硼氧成分越高，在光照或电流注入条件下硼氧复合体越多，复合体越多
和其接地金属边框之间的高电压会造成组件的功率衰减问，此外电位诱发衰减效应。还和电池，玻璃,EVA,温度，湿度和电压有关。衰减机理：高电压的作用下，组件电池封装材料和组件上表面，下表面的材料

老化衰减是指在长期使用中出现的极缓慢的功率下降，产生的主要原因与电池缓慢衰减有关，也与封装材料的性能退化有关。其中紫外光的照射时导致组件主材性能退化的主要原因。紫外线的长期照射，使得EVA及背板（TPE
结构）发生老化黄变现象，导致组件透光率下降，进而引起功率下降。这就要求组件厂商在选择EVA及背板时，必须严格把关，所选材料在耐老化性能方面必须非常优秀，以减小因辅材老化而引起组件功率衰减。 3.