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综合
硅太阳能电池侧切面“钝化边缘技术”(PET)研究
来源:索比光伏
发布时间:2023-12-15 17:28:14
(b)经PET工艺后,pSPEERPET太阳能电池全部沉积一层钝化层(AlOx),包括最重要的切割边(绿色)。在图(a)和(b)中,没有显示背面银电极。B.
“pSPEERPET”是PET工艺边缘钝化后的太阳能电池,如图1(b)。
ALD
P型单晶电池黑斑怎么产生的?
来源:索比光伏
发布时间:2018-07-04 09:32:55
所示,电池样片表面SEM形貌扫描图如图4(a)和(b)所示。
采用布鲁克X射线荧光
光谱仪
对效率为19.37%的黑斑电池片进行分析,选择的测量面积是4cm2,即对整个小样片的成分进行分析。
单晶电池
分析 | 晶硅电池黑斑分析!
来源:索比光伏
发布时间:2018-06-08 18:00:00
所示,电池样片表面SEM形貌扫描图如图4(a)和(b)所示。
采用布鲁克X射线荧光
光谱仪
对效率为19.37%的黑斑电池片进行分析,选择的测量面积是4cm2,即对整个小样片的成分进行分析。
晶硅电池
P型单晶EL黑斑分析
来源:索比光伏
发布时间:2018-05-24 10:24:56
所示,电池样片表面SEM形貌扫描图如图4(a)和(b)所示。
采用布鲁克X射线荧光
光谱仪
对效率为19.37%的黑斑电池片进行分析,选择的测量面积是4cm2,即对整个小样片的成分进行分析。
太阳能电池
双面光伏组件功率测试方法正式发布
来源:索比光伏
发布时间:2017-04-24 00:00:00
b)组件背面非反射背景遮挡,双面组件正面STC(G = 1000 W/m2,25℃)条件下照射,测试正面的短路电路Iscfront。
d)非反射背景:要求在组件光谱响应波长范围内反射率低于7%,须采用与组件同样标准的
光谱仪
进行反射率的测量。反射背景能够与被测组件吻合,与遮挡面充分接触。
双面光伏组件功率测试方法正式发布
双面电池组件I-V测试方法问世 促进N型双面组件商业化应用
来源:索比光伏
发布时间:2017-04-21 10:37:41
d) 非反射背景:要求在组件光谱响应波长范围内反射率低于7%,须采用与组件同样标准的
光谱仪
进行反射率的测量。反射背景能够与被测组件吻合,与遮挡面充分接触。
b
) 标准组件:标准光伏组件,满足IEC60904-2和60904-4规定的一级标准组件的要求。 c) 双面光伏组件满足IEC60904-10短路电流随辐照度的线性关系要求。
双面电池组件
单晶硅与多晶硅电池衰减特性研究
来源:索比光伏
发布时间:2016-10-14 00:00:00
4)硼铁(Fe-B)对的分解-复合模型。Fe-B对分解成Fe和B,高能级的Fe复合中心使硅片受到Fe污染,从而引起电池性能下降。
1LID的影响因素影响LID的因素为:1)硼氧(B-O)复合体。B-O复合体是影响LID的主要因素之一,LID值与B浓度成正比,与O浓度平方成正比。2)晶体内部碳(C)含量。
单晶硅与多晶硅电池衰减特性研究
【干货】单晶硅与多晶硅电池衰减特性研究
来源:索比光伏
发布时间:2016-10-13 15:52:03
4)硼铁(Fe-B)对的分解-复合模型。Fe-B对分解成Fe和B,高能级的Fe复合中心使硅片受到Fe污染,从而引起电池性能下降。
1LID的影响因素 影响LID的因素为:1)硼氧(B-O)复合体。B-O复合体是影响LID的主要因素之一,LID值与B浓度成正比,与O浓度平方成正比。2)晶体内部碳(C)含量。
单晶硅
聚光型光伏模块转换效率的表征
来源:索比光伏
发布时间:2015-01-19 00:00:00
太阳光的频谱分布可以采用
光谱仪
或使用基于测量大气参数的模型,例如气溶胶光学厚度等模型通过直接测量来得到。
(b) 在筛除了由IEC 62670-1(见表1)所规范的聚光标准工作条件(CSOS)之后,由图2可以得到转换效率值的分布。
聚光型光伏模块转换效率的表征
光伏组件封装材料综述
来源:索比光伏
发布时间:2013-11-06 10:41:47
另一种用于材料表征和评估的有趣工具是拉曼
光谱仪
,该设备被认为是一种用于分析小型测试层压样品或全面积光伏组件封装衰退效应的快速且非破坏性方法。
而薄膜光伏组件既可以通过在组件背面沉积半导体层的底衬工艺(substrateprocess)制造,也可以使用在组件前表面沉积半导体层的顶衬工艺(superstrateprocess)制造而成(如图一中(b)
光伏组件封装材料综述
采用抗反射膜提高a-Si:H/μc-Si:H串结薄膜太阳能电池的转换效率
来源:索比光伏
发布时间:2012-12-17 00:00:00
图像(a)和剖面(b)说明均方根(RMS)表面粗糙度为5.5nm,表面凸出小于2nm,涂层表面是平滑而致密的,即无孔的。
在本研究工作中我们在低铁玻璃衬底上旋涂几种ARC,它们有大致一样的折射率,膜层厚度则不同,用椭偏
光谱仪
测量厚度。所有样品的ARC铅笔硬度均超过5H,足以承受正常的刮擦。
采用抗反射膜提高a-Si:H/μc-Si:H串结薄膜太阳能电池的转换效率
用ECR-CVD改善硅基异质结太阳电池的界面钝化的影响
来源:索比光伏
发布时间:2012-06-21 00:00:00
H2/SiH4流量比为50;B2H6/ SiH4流量比在1-5%之间变化。本研究中,p+掺杂层的薄膜厚度在玻璃衬底上用表面轮廓仪和椭偏
光谱仪
(SE)测量。
由于现在的样品是在硅烷的高氢稀释比(H2/SiH4=50)的条件下制备的,我们推测,即使在ECR-CVD中B掺杂比(B2H6/SiH4)高时也实现了c-Si表面覆盖氢。
用ECR-CVD改善硅基异质结太阳电池的界面钝化的影响
2011年慕尼黑上海激光、光电展展前预览
来源:索比光伏
发布时间:2011-01-21 09:10:58
必达泰克(B&WTEK Inc.)和柯尼卡美能达公司(Konica Minolta Sensing Americas)合作推出新一代低成本、高分辨率和高灵敏度的 SpectraRad 辐照度
光谱仪
。
必达泰克光电科技(上海)有限公司 展位号 E4.4366 B&WTEK 推出新一代 SpetraRad 辐照度
光谱仪
慕尼黑
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