层压前电池片隐裂因素分析

来源:摩尔光伏发布时间:2018-09-04 15:47:21

摘要:光伏组件层压前通过EL测试将半成品组件中的缺陷及时进行排查,并进行返工,是光伏组件生产中的关键环节。常见的返工缺陷有隐裂、虚焊和其它。其中,电池片隐裂导致的返工比例最高。引起电池片隐裂的因素包括:电池片晶体类型、环境温湿度、焊接机固定台温度、洁净度、敷设手法等,全方位进行关注并采取相应措施,是降低电池片隐裂的有效途径。

光伏组件生产过程中,会因为成品组件(或半成品组件)存在某种异常或缺陷而进行返工。发现异常或缺陷的质控点主要分为:层压前EL测试、层压后目测、后道EL终测三个工序点。层压后,玻璃、EVA、电池片、EVA、背板在高温高压的作用下会结合成一个整体,常规下很难进行拆分,返工困难很大。因此,层压前通过EL测试将半成品组件中的缺陷及时进行排查、发现并更改,显得尤为重要。

层压前的工序包括电池片焊接和敷设,由于设备、人、材料、方法、环境等因素,每道工序都可能产生不良现象。焊接工序造成的常见不良现象包括:电池片隐裂、虚焊、焊带偏移、锡丝、锡渣、铺锡、助焊剂结晶残留等。敷设工序造成的常见不良现象包括:电池片隐裂、异物、并片、串间距小大、背板不良、背板小条不居中、汇流条间距小大、汇流条弯曲、汇流条虚焊、汇流条长短不一、条码粘贴不良、极反等。根据层压前EL测试出现不良现象的频次,将以上不良造成的返工,大致归为三类:

第一类:隐裂返工。频次最高,焊接、敷设两工序都可能造成电池片隐裂。

第二类:虚焊返工。虚焊是焊接工序出现的不良,需要及时发现并调整自动焊接机设备。

第三类:人为返工。其他不良现象的总称,由于每种不良出现的频次较少、且多为人为粗心大意造成,因此,统称为人为返工。

图1是笔者所在公司2016年5月份某段时期内生产单晶组件层压前EL测试不同类别返工比例折线图。可以看出,隐裂造成的返工比例最高,人为造成的返工比例次之,虚焊造成的返工比例最低。


本文针对层压前半成品组件造成返工的隐裂因素进行分析与研究,并提出整改措施。引起层压前电池片隐裂的原因是多方面的,下面逐项进行分析。

1单多晶类型

单晶电池片中,硅的所有原子排列短程有序、长程也有序;多晶电池片中,硅原子排列仅短程有序,存在晶界(如图2所示)[1]。由于多晶体晶界之间存在一定的作用力,当受到外力时,在晶界之间的相互作用力下,多晶电池片一定程度上不会破碎。相比之下,单晶电池片会比多晶电池片易碎,隐裂比例高。


对于自动焊接来说,由于电池片受力比较均匀,单多晶电池片隐裂比例区别不大;但对于手动焊接来说,由于人为力度的差异,单晶隐裂比例偏高。这是由单、多晶电池片内部结构的差异引起的。

2环境温湿度

笔者所在公司所用焊接机使用说明中指出,环境温度过低,会造成碎片率增加;湿度增大时,将会造成绝缘裂化,控制元件受损,而且湿度增大会造成凝露。另一方面,当湿度增大时,会增大电池片的翘曲度,进而增大隐裂的比例。最高温度为﹢40℃时,空气的相对湿度不超过50%;在较低的温度下可以允许有较高的湿度,例如:20℃时达到90%。建议运转时,周围空气温度为:10~40℃,24h,其平均值不超过﹢35℃;湿度为30%~75%,对于由于温度变化偶尔产生的凝露应采取特殊的措施,不得有结露。

3焊接机

与手工焊接相比,自动焊接降低了对电池片的操作次数,实现了单焊、串焊的同步进行[2]。但是,当焊接机各参数、各零部件调节不当时,也会引起电池片的隐裂。主要包括以下几方面:

3.1固定台温度

固定台划分为:预热台、焊接台、第一降温区、第二降温区、第三降温区五个区域。电池片焊接前经预热区,进入施焊工位,运用高频感应式焊接头进行焊接,焊接时升温速度、保温时间、降温速度均予以严格梯度控制,施焊前经三段梯度升温预热,焊后经四段梯度缓降温。建议预热台温度:50~60℃,焊接台温度110~140℃,降温区一温度:90~100℃,降温区二的温度低于降温区一,降温区三的温度低于降温区二的温度。电池片脆性大、易碎,急速升温或降温,造成电池片受热、受冷,引起热胀冷缩裂,再加上焊接施加一定的作用力,电池片很容易破碎。因此,加强预热台、焊接台、降温区的温度检测,是降低电池片隐裂的途径之一。

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