（1） 接线盒密封盒体内大量积水；
（2） 接线盒盒体与背板材料不匹配；
（3） 接线盒的密封螺母开裂失效；
（4） 接线盒在老化预处理测试中盒体变形；
（5） 接线盒密封圈老化预处理测试后失效，或其他原因。
通过对以上测试过程中出现的失败现象进行研究分析，得出以下几点失败原因：
（1） 盒体的锁扣设计：
锁扣设计成两扣模式可能是导致试验失败的主要原因。两扣模式使得盒盖受力集中在二点，加上盒盖面积较大，导致其余各点受力很不均匀。特别是在高温时，其余各点受密封圈热胀、材料受热变软的影响，导致接线盒龇口，影响盒体的密封性，从而在 IP65 防水测试中失败（如图 2）。
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