光伏咨询搜索-索比光伏网

条件下的Voc。b. 双面系数仅报告以及公差，若使用双面照射法测试那么报告背面增益。5.2文件：增加BNPI条件下Pmax和Isc的公差7.2.1中加入更新的双面组件铭牌示例，如下图：图19 报告
，并邀请其参与接下来的标准工作。关于是否引入LETID测试：暂时不引入。IEC TS 62195 重测导则 ED 2.0此次工作组组长 Itai Suez缺席会议，由召集人Colleen汇报了E

——中国质量认证中心(CQC)负责验证和发布。易派客质量评价从质量经营能力、质量监管能力、质量发展能力、实物质量水平等四个维度，对产品进行现场审查和测试，结果从高到低分为AAA、AA、A、BBB、BB
、B、CCC、CC和C 9个等级呈现。其中，AAA等级代表了产品在这些方面的综合表现达到了最高水平。该评级结果将作为中石化物资招标评标和采购决策的加分项，目前该加分策略已在中石化光伏组件采购业务中

制备技术实现高电池双面率03、低光致衰减(LID)英利能源熊猫3.0组件中晶体硅含硼量极低，消除了B-O对的影响，初始光诱导衰减为0.1%以下，保证组件在长期运行中输出更多电量，进一步提升发电效率
：由于N型TOPCon电池正面金属Ag/Al浆料的特性，N型组件对PID及湿热环境较为敏感，英利从设计、材料及工艺等多维度对熊猫3.0组件升级，使其经加严IEC标准老化测试后，功率衰减不超过2%。针对

IEC61215，IEC 61215需要模拟器为CAA等级或更高，由于测试方法会影响双面设备的功率标定，因此有必要表明模拟器的不均匀度至少保持在B等级。IEC 60904-2 标准光伏器件要求
预处理的要求进行了更新并对于哪些测试进行何种预处理给出了建议。删除了卷曲测试。对附着力测试部分(含附件)进行了彻底的审核和更新，添加了特定的用例并规范附件，以前的附录B因此被删除。详见下图：增加了

BIFIrel概念，即相对背面光强增益系数，报告输出内容和IEC 61215 2021版中的内容一致模拟器和自然光条件测试光强均匀性等级至少为B 对非辐射背景章节做了修改，背面光强由原来的
的时间模拟出材料的失效现象。根据报告结果，综合老化测试可以呈现和IEC TS 63209-1 B序列相同的测试效果，但时间大幅缩短，这对企业研发和评估新材料会很有帮助。与会专家对UV光谱的选择

BSI 或者1.25 x aBSI /ISC。　　IEC 61730-2 ed3.0 　　目前在CDV阶段，工作组目前主要讨论内容如下：　　B序列是否分成正面和背面两个测试序列，若分成两个并行
序列，和原有序列相比，单块组件的UV测试量减少一半。根据与会专家的讨论，B序列中的UV测试量远小于IEC 62788中测试量，所以是否分成两列区别不大。　　哪些测试可以用代表性样品，计划准备一个

) modules: Detection 晶硅光伏组件高温辅助光致诱导衰减测试目前状态：CD草案将于本月提交。 - 正式写法统一为LETID。- 升温条件: 当温度达到要求时再通入电流。- 对标准中的
线盒、连接器、前板和背板等零部件的鉴定增加了额外要求。- 对可靠绝缘材料 (RUI) 的定义和测试做出了较大改动，放入了IEC 62788-2-1标准中，主要包括绝缘厚度和一些材料相关的测试，以及前板

会加速PID效应，加快数据的收集。 IEC TS 63342 LETID测试 Light and elevated temperature induced degradation (LETID
广泛：前板玻璃与胶膜之间粘接力(G/E);胶膜与电池片之间粘接力(E/Cell);胶膜与背板直接粘接力(E/BS);背板层间粘接力(B/S)，该测试方法甚至可以直接运用到组件端，具体制样和测试原理如下

(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试：检测 (项目组长：Max B. Koentopp / Christos Monokroussos) 目前草案处于CD阶段。高温辅助光致衰减
(LETID)测试：检测 IEC 63342 晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试：检测材料及零部件标准 IEC 62788-1-1 ED1 光伏组件用材料测试程序第1-1

方法参照IEC TS 62782标准。 - 增加针对柔性组件的特殊要求，包括在静态机械载荷测试后增加弯折试验。 - 对晶硅组件，在湿热试验后增加B-O LID稳定化试验，以排除晶硅电池组件(尤其是
PERC电池组件)B-O LID衰减对湿热试验衰减判定的干扰。 - 对于旁路二极管热试验，如果二极管数量大于三个，可选其中三个进行测试。 - 对于绝缘耐压试验，测试条件与IEC 61730-2

可靠的供应商以避免风险。三、多晶PERC光衰与LeTID 根据以下2012年的研究，低氧与掺Ga均无法解决多晶PERC电池的光衰问题，并展示了不同温度下测试光衰的差别，75oC下的光衰明显
，质量相对较差的硅片制成的多晶PERC组件在系统中存在较高的潜在风险。目前晶硅电池LeTID的测试标准正在讨论中，对于多晶PERC的光衰管控只有出厂测试才有意义，仅仅看第三方的送样测试结果的

均需提供RTI值。而对于绝缘厚度，主要针对一些特殊背板材料，如涂覆型产品，涂层不能计入可靠绝缘厚度(RUI，Relied-Upon Insulation)。另外，测试相关方面，主要变化为将B序列的UV
衰减(LeTID，Light and elevated-Temperature Induced Degradation)检测方法：该测试从之前的IEC 61215-2标准提案中被独立出来，此次会议

℃，可使用130m甚至更薄的硅片，在设备和材料上降本空间大，未来将最更具成本优势。基于无B-O光衰减、无LeTID，较低的温度系数(基本只有晶硅同质结电池的一半左右)、高双面率、弱光响应优异等特点
。杨立友向光伏們介绍道，目前晋能科技异质结电池平均效率23.85%，最高效率24.73%。经第三方测试，异质结组件双面率达到93%，未使用大硅片、半片等叠加技术的72片组件正面功率达406.6W。目前

，后续我们会做优化。相信多晶优化的结果在鑫单晶上更优化，效果比多晶更好。这是我们在Fraunhofer上的组件，分两步测了LID和LeTID。先把我们的组件做了LID的测试
。然后再把组件做了LeTID的测试。这是Fraunhofer的测试条件，这个比较严苛，LID用了85度，Le TID用了50度或60度的。LID的组件效果是好的，基本上只有2%4%的衰减

过去一周，国际国内两个事件搅动了光伏行业组件制造商们及电站业主的神经。首先来自德国ISE研究机构 Dr Radovan等技术专家撰写的一篇名为《PERC电池LeTID衰减：会比PID造成更
，该系列产品因大幅降低了组件初始光衰(首年不超过2%)，获得了户外实证检验及行业认可。 LID研究与解决始末从目前单、多晶组件产品户外使用测试的对比情况来看，各大组件制造商生产的衰减率水平不均

选择技术可靠的供应商以避免风险。 3.多晶PERC光衰与LeTID 根据以下2012年的研究，低氧与掺Ga均无法解决多晶PERC电池的光衰问题，并展示了不同温度下测试光衰的差别，75oC下的光
硅料、回料很可能被用到，质量相对较差的硅片制成的多晶PERC组件在系统中存在较高的潜在风险。目前晶硅电池LeTID的测试标准正在讨论中，对于多晶PERC的光衰管控只有出厂测试才有意义，仅仅看第三方的