IEC 63342 晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试:检测 (项目组长:Max B. 进行了统一
修订:绝缘协调(章节5.6.3),固体绝缘厚度(5.6.4)
表3和表4进行了简化:a) 移除了与污染等级3相关的部分,因为通过了IEC61730-2要求的组件已经不适用此污染等级
b)
为了进一步解决器件中载流子传输层存在的稳定性问题,团队设计合成了一种小分子界面材料MSAPBS用于SnO2界面缺陷钝化。通过与美国西北大学Tobin J. 以上工作得到了国家杰出青年科学基金(21925506)、国家重点研发计划(2016YFB0401000)、浙江省杰出青年基金(LR16B040002)等项目资助。