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【刘工总结】组件问题系列总结——电池片经EL测试局部较黑对组件会有什么影响?

发表于:2014-12-24 00:00:00     来源:阳光工匠光伏网作者:刘殿宝
1.0绪论

近年来,单晶硅片供应商为了利益最大化,奉行只要单晶不掉苞就是好工艺。无位错拉晶工艺要求籽晶用无位错拉晶切割,在拉晶过程中下种引颈长度要大于一个晶锭直径才能把位错排净,方可放肩。而现在引颈长度120-140mm完全低于6吋直径150mm单晶。另外,单晶收尾时锅底料要保证是投料量的10%左右,现在单晶供应商恨不得把坩埚内料全部拉完提尽。殊不知想多提走一点锅内料时,已造成坩埚内熔体过冷,一旦材料过冷必然掉苞。看起来完整收尾,实际早已掉苞,这样上返一个直径的单晶已是位错片。供应商把这些位错片完全轻而易举转嫁给用户。

2.0黑斑片

电致发光EL(Electroluminescence)照片中黑心片和黑斑片是反映在通电情况下该部分没有发出1150nm的红外光,故红外相片中反映出黑心和黑斑。发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。

黑芯片(左)与黑斑片(右)


图1黑芯片(左)与黑斑片(右)
组件电性能测试如下图所示。由图可见,组件短路电流Isc(4.588A)和最大功率Pmax(143.028W)明显偏低;此类正常组件短路电流Isc一般为5.2A,最大功率Pmax一般为175W以上。说明组件中存在着大量低效率电池片,导致组件功率的严重下降。

图2组件电性能和EL测试


图2组件电性能和EL测试

责任编辑:solar_robot
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