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主要利用电致发光(EL)手段对晶体硅光伏组件产生的裂纹、断栅和黑片等隐性缺陷进行分析研究，测试组件的最大功率;将有明显隐性缺陷的组件与无明显隐性缺陷的组件进行对比，分析各性能参数的差异，同时研究缺陷
对功率的影响及缺陷产生的原因。另外，为研究黑片对组件的影响，选取组件做PID试验，观察试验后的组件EL图像和功率衰减情况，分析黑片产生原因及其对组件性能产生的影响。

摘要：光伏组件层压前通过EL测试将半成品组件中的缺陷及时进行排查，并进行返工，是光伏组件生产中的关键环节。常见的返工缺陷有隐裂、虚焊和其它。其中，电池片隐裂导致的返工比例最高。引起电池片隐裂的因素
陷而进行返工。发现异常或缺陷的质控点主要分为：层压前EL测试、层压后目测、后道EL终测三个工序点。层压后，玻璃、EVA、电池片、EVA、背板在高温高压的作用下会结合成一个整体，常规下很难进行拆分，返工

摘要：介绍了一种通过调整背钝化工艺改善多晶硅背钝化电池缺陷的方法。采用背钝化新型电池片工艺，在正常生产过程中EL会呈现有规律的区域发暗，严重影响电池片性能。本文通过优化PECVD工艺时间和退火温度
，使电池片EL区域发暗得到解决，同时提升了电池片效率。

摘要：光伏组件的电池片表面易被划伤，影响外观，严重的将造成EL不良，波及产品性能。该文通过对Z公司的划伤特点及产生的原因进行研究，从引起划伤的外在因素和电池片本身抗耐磨性的内在因素着手，从人、机、料
隐裂所导致的EL不良已成为主要的异常反馈项目，很多厂家已逐步将电池片划伤记入不良。本文通过对Z公司的划伤特点及产生的原因进行研究，通过质量管理工具方法开展改进活动，从而找到降低划伤的方法，达到降本增效

摘要：丝网印刷线在生产过程中产生了间歇性串阻偏高、效率偏低的现象，EL测试图像部分区域呈现黑雾状，针对此问题从烧结炉和丝网工艺2个方面进行分析，解决了该问题。烧结是太阳能多晶电池片成为成品的最后
一道关键工序，其决定着太阳能多晶电池片的效率和合格率，而烧结炉直接影响着烧结工艺的成败。本文着重分析研究了由于烧结炉引起的烧结EL不良现象。 1丝网印刷烧结工艺烧结就是将印刷了浆料的硅片经过烘干

el-certificates。该计划旨在推动源自风能、水能和生物质的发电量的增长，使其到2020年达到28.4太瓦时。 3、市场分析：光伏最大赢利点在商业建筑尽管电价低，太阳能项目支持力度不足，得益于光伏成本的

试验，每500 h 取出测一次功率及EL;3# 和4# 用于HF100 测试，每10 个循环测一次功率及EL。首先将组件同时接受光辐照5 kWh/m2 的预处理，预处理之后测得的功率如表1 所示
。得到预处理后的功率数据后，试验设计过程如图2 所示。将1# 和2# 组件置于湿热环境箱中，设置湿度85% 和温度85 ℃的试验条件，每500h 取出组件进行功率和EL 检测;将3# 和

摘要：p型单晶硅太阳电池在el检测过程中，部分电池片出现黑斑现象。结合x射线能谱分析(eds)，对黑斑片与正常片进行对比分析，发现黑斑片电池与正常电池片大部分表面的成分相同，排除了镀膜及丝网印刷
发电成本的主要途径。目前，国内外对于电池的隐裂、断栅、裂片等失效分析进行过深入的研究，然而对于黑斑片却鲜有报道。在p型晶硅电池的大规模生产中，电池的检验常用电致发光(EL)检测仪，根据硅材料的

专注于组件性能测试，旨在发现组件质量和性能方面的问题，包含以下：【STC性能】(A+A+A+直射式长脉冲模拟器) 【EL】(像素高达6000万) 【PID性能】【LID】( LED模拟器
送检抽样，随机抽样测试的可信度更高。 step 2 VI检测此步骤是为检测组件表面是否受损、外观是否完好。 step 3 EL检测 EL检测检测组件的内部缺陷，用于检测组件内部是否有黑斑、断栅